Contamination of TEM Holders Quantified and Mitigated With the Open-Hardware, High-Vacuum Bakeout System

Imagen
Descripción	artículo científico publicado en 2020
Autoría	autor: Robert Hovden  Yin Min Goh  Jonathan Schwartz
Fecha de publicación	14 de julio de 2020
Idioma
País de origen
Enlace a Wikipedia
Estatus de derecho de autor	Desconocido
¿Datos faltantes/errados?	Editar ítem de Wikidata