Strain mapping inside an individual processed vertical nanowire transistor using scanning X-ray nanodiffraction
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| Descripción | artículo científico publicado en 2020 |
| Autoría |
autor: Johannes Svensson Alexander Björling Susanna Hammarberg Zhongyunshen Zhu Dmitry Dzhigaev Filip Lenrick Jesper Wallentin Lars-Erik Wernersson R Timm Abinaya Krishnaraja Yi Liu |
| Fecha de publicación | 12 de junio de 2020 |
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| Estatus de derecho de autor | Desconocido |
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