Visualization of Charge Carrier Trapping in Silicon at the Atomic Surface Level Using Four-Dimensional Electron Imaging - Dominio Público Uruguay

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Visualization of Charge Carrier Trapping in Silicon at the Atomic Surface Level Using Four-Dimensional Electron Imaging

Autoría

Detalles de la obra

Fecha de publicación: 8 de abril de 2019

Idioma: inglés

País de origen: Desconocido

Estado de los derechos de autor

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