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Kelvin probe force microscopy of the nanoscale electrical surface potential barrier of metal/semiconductor interfaces in ambient atmosphere

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Descripción
Autoría

autor: Čestmír Drašar  Tomáš Plecháček  Petr Knotek  Filip Dvorak  Jan Smolík 

Fecha de publicación 15 de julio de 2019
Idioma
País de origen
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