Characterizing the intrinsic properties of individual XFEL pulses via single-particle diffraction
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: Noh Do Young Makina Yabashi Kensuke Tono Huaidong Jiang Daewoog Nam Jiadong Fan Heemin Lee Tetsuya Ishikawa |
| Fecha de publicación | 1 de enero de 2020 |
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| País de origen | |
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