Quantification of Charge Transfer at the Interfaces of Oxide Thin Films
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: Dong Su Huolin L Xin Eric Stach Yimei Zhu |
| Fecha de publicación | 16 de mayo de 2019 |
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| País de origen | |
| Enlace a Wikipedia | |
| Estatus de derecho de autor | Desconocido |
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