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Coherent electrical readout of defect spins in silicon carbide by photo-ionization at ambient conditions

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Descripción artículo científico publicado en 2019
Autoría

autor: Shinobu Onoda  Takeshi Ohshima  Jawad ul Hassan  Nguyen Tien Son  Sang-Yun Lee  Rainer Stöhr  Naoya Morioka  Jorg Wrachtrup  Junichi Isoya 

Fecha de publicación 5 de diciembre de 2019
Idioma
País de origen
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