Probing interlayer excitons in a vertical van der Waals p-n junction using a scanning probe microscopy technique
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: Mahfujur Rahaman Dietrich Rt Zahn Ashutosh Mukherjee Sibylle Gemming Christian Wagner |
| Fecha de publicación | 9 de enero de 2019 |
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| País de origen | |
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