Chemical Imaging of Buried Interfaces in Organic-Inorganic Devices Using Focused Ion Beam-Time-of-Flight-Secondary-Ion Mass Spectrometry
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: Gustavo F. Trindade Rasmus Havelund Clive J Roberts Ichiro Mihara Mariavitalia Tiddia |
| Fecha de publicación | 17 de enero de 2019 |
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| País de origen | |
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| Estatus de derecho de autor | Desconocido |
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