On-chip refractive index cytometry for whole-cell deformability discrimination
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| Descripción | artículo científico publicado en 2019 |
| Autoría |
autor: Yves-Alain Peter Nadine Sen Nkwe Antoine Leblanc-Hotte Sylvie Lesage Jean-Sébastien Delisle |
| Fecha de publicación | 1 de enero de 2019 |
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| País de origen | |
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| Estatus de derecho de autor | Desconocido |
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