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Fine-Grained Analysis of Spontaneous Mutation Spectrum and Frequency in Arabidopsis thaliana

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Descripción
Autoría

autor: Detlef Weigel  Charles B. Fenster  Ruth Geyer Shaw  Claude Becker  Matthew Rutter  Manuela Neumann  Mao-Lun Weng 

Fecha de publicación 4 de diciembre de 2018
Idioma
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