Nanoscale Pattern Decay Monitored Line by Line via In Situ Heated Atomic Force Microscopy
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| Descripción | artículo científico publicado en 2020 |
| Autoría |
autor: Richard J Sheridan Alamgir Karim Christopher M. Stafford Michael R Bockstaller Jianan Zhang |
| Fecha de publicación | 19 de marzo de 2020 |
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| País de origen | |
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| Estatus de derecho de autor | Private domain |
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