Characterizing localized reentry with high-resolution mapping: Evidence for multiple slow conducting isthmuses within the circuit
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| Descripción | artículo científico publicado en 2018 |
| Autoría |
autor: Arnaud Denis Frederic Sacher Thomas Pambrun Felix Bourier Josselin Duchateau Masateru Takigawa Claire A Martin Corentin Dallet Ghassen Cheniti Michel Haïssaguerre N. Derval Antonio Frontera R. Dubois Konstantinos Vlachos Takeshi Kitamura Mélèze Hocini |
| Fecha de publicación | 28 de noviembre de 2018 |
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