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Thickness-Independent Semiconducting-to-Metallic Conversion in Wafer-Scale Two-Dimensional PtSe2 Layers by Plasma-Driven Chalcogen Defect Engineering
artículo científico publicado en 2020
Autoría
Detalles de la obra
Fecha de publicación:
11 de marzo de 2020
Idioma:
inglés
País de origen:
Desconocido
Estado de los derechos de autor
Dominio público