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Contact engineering of single core/shell SiC/SiO2 nanowire memory unit with high current tolerance using focused femtosecond laser irradiation
artículo científico publicado en 2020
Autoría
Detalles de la obra
Fecha de publicación:
1 de marzo de 2020
Idioma:
inglés
País de origen:
Desconocido
Estado de los derechos de autor
Dominio público