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Nondestructive Thickness Mapping of Wafer-Scale Hexagonal Boron Nitride Down to a Monolayer

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Descripción artículo científico publicado en 2018
Autoría

autor: Andrea Crovetto  L Camilli  Ruizhi Wang  Stephan Hofmann  Patrick R Whelan 

Fecha de publicación 18 de julio de 2018
Idioma
País de origen
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Estatus de derecho de autor Desconocido
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