Filtros de búsqueda

Atomic Force Microscopy Force Mapping Analysis of an Adsorbed Surfactant above and below the Critical Micelle Concentration

Imagen Imagen de una obra genérica. El texto sobre ella indica que no hay disponible una imagen libre de la obra, y que si posees una, puedes hacer clic en el enlace del cartel para subirla.
Descripción artículo científico publicado en 2018
Autoría

autor: Alberto Striolo  Brian P Grady  Rico F Tabor 

Fecha de publicación 15 de junio de 2018
Idioma
País de origen
Enlace a Wikipedia
Estatus de derecho de autor Private domain
¿Datos faltantes/errados? Editar ítem de Wikidata