Optical imaging beyond the diffraction limit by SNEM: effects of AFM tip modifications with thiol monolayers on imaging quality - Dominio Público Uruguay

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Optical imaging beyond the diffraction limit by SNEM: effects of AFM tip modifications with thiol monolayers on imaging quality

artículo científico publicado en 2014

Autoría

Detalles de la obra

Fecha de publicación: 9 de diciembre de 2014

Idioma: Desconocido

País de origen: Desconocido

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