In situ TEM imaging of defect dynamics under electrical bias in resistive switching rutile-TiO₂
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: James Bain Marek Skowronski Wenhao Chen Yoosuf Picard Paul A. Salvador |
| Fecha de publicación | 22 de diciembre de 2014 |
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| País de origen | |
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| Estatus de derecho de autor | Desconocido |
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