Determining on-axis crystal thickness with quantitative position-averaged incoherent bright-field signal in an aberration-corrected STEM

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Descripción	artículo científico publicado el 4 de mayo de 2012
Autoría	autor: Huolin L Xin  Ye Zhu  David A. Muller
Fecha de publicación	4 de mayo de 2012
Idioma	inglés
País de origen
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Acceder a la obra	http://arxiv.org/pdf/1110.6700
Estatus de derecho de autor	Private domain
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