Bond fluctuation of S/Se anchoring observed in single-molecule conductance measurements using the point contact method with scanning tunneling microscopy

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Descripción	artículo científico publicado en 2006
Autoría	autor: Satoshi Yasuda  Tohru Nakamura
Fecha de publicación	1 de junio de 2006
Idioma	inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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