Properties of Y-Ba-Cu-O thin films with ordered defect structure: Y2Ba4Cu8O20-x
| Imagen |  |
|---|---|
| Descripción | |
| Autoría | |
| Fecha de publicación | 1 de julio de 1988 |
| Idioma | inglés |
| País de origen | |
| Enlace a Wikipedia | |
| Estatus de derecho de autor | Private domain |
| ¿Datos faltantes/errados? | Editar ítem de Wikidata |