Strain in ultrathin epitaxial films of Ge/Si(100) measured by ion scattering and channeling

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Descripción	artículo científico publicado en 1987
Autoría	autor: Bruce Davidson  Leonard Feldman
Fecha de publicación	1 de agosto de 1987
Idioma	inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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