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Comparison of chromosomal damage induced by X-rays and Ar ions with an LET of 1840 keV/micrometer in G1 V79 cells

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Descripción artículo científico publicado en 1996
Autoría

autor: M Scholz 

Fecha de publicación 1 de febrero de 1996
Idioma
País de origen
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Estatus de derecho de autor Desconocido
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