Surface Extended-X-Ray-Absorption Fine Structure and Scanning Tunneling Microscopy of Si(001) 2×1-Sb

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Descripción
Autoría	autor: Nogami J  William E. Spicer  Calvin Quate
Fecha de publicación	27 de mayo de 1991
Idioma	inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Private domain
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