Remote Tracking of Phase Changes in Cr2AlC Thin Films by In-situ Resistivity Measurements.
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|---|---|
| Descripción | artículo científico publicado en 2019 |
| Autoría |
autor: Christina Scheu Marcus Hans Bernhard Völker Xiang Chen Bastian Stelzer |
| Fecha de publicación | 4 de junio de 2019 |
| Idioma | inglés |
| País de origen | |
| Enlace a Wikipedia | |
| Estatus de derecho de autor | Desconocido |
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