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Quantitative measurement of mean inner potential and specimen thickness from high-resolution off-axis electron holograms of ultra-thin layered WSe2

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Descripción
Autoría

autor: Emrah Yucelen  Rafal E. Dunin-Borkowski  Amir H Tavabi  Juri Barthel  Martial Duchamp  Florian Winkler 

Fecha de publicación 20 de diciembre de 2016
Idioma
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