Test beam measurement of ams H35 HV-CMOS capacitively coupled pixel sensor prototypes with high-resistivity substrate
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: Francesco Lanni Kai-Feng Chen Daniel Matthias Alfred Muenstermann Tobias Golling Giuseppe Iacobucci Mathieu Benoit Sergio Gonzalez-Sevilla Saverio Braccini Marco Rimoldi Didier Ferrere Jessica E. Metcalfe Stefano Terzo Marzio Nessi Hideki Okawa Sebastian Grinstein |
| Fecha de publicación | 4 de diciembre de 2018 |
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