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Looking under the hood: A comparison of techno-economic assumptions across national and global integrated assessment models

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Descripción
Autoría

autor: Detlef P. van Vuuren  Christoph Bertram  Volker Krey  Elmar Kriegler  Laurent Drouet  Gunnar Luderer  Harmen-Sytze de Boer  Alban Kitous  James Edmonds  David E.H.J. Gernaat  Fuminori Sano  Shinichiro Fujimori  Maria Kannavou  Ritu Mathur  Aayushi Awasthy  Lara Aleluia Reis  Roberto Schaeffer  Gokul Iyer  Alexandre C. Köberle  Matteo Muratori  Panagiotis Fragkos  Ken Oshiro 

Fecha de publicación abril 2019
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