Quantitative study of valence and configuration interaction parameters of the Kondo semiconductors CeM2Al10 (M=Ru, Os and Fe) by means of bulk-sensitive hard X-ray photoelectron spectroscopy

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Descripción
Autoría	autor: Maurits W Haverkort  Ku-Ding Tsuei  Liu Hao Tjeng
Fecha de publicación	febrero 2015
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Acceder a la obra	https://archive.org/details/arxiv-1409.6552
Estatus de derecho de autor	Private domain
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