Probing the electronic states of high-TMR off-stoichiometric Co2MnSi thin films by hard x-ray photoelectron spectroscopy
| Imagen |  |
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: Gerhard H. Fecher Claudia Felser-Wenz Siham Ouardi Shigenori Ueda Gregory Stryganyuk |
| Fecha de publicación | 17 de marzo de 2014 |
| Idioma | inglés |
| País de origen | |
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