Observation of the generation of stacking faults and active degradation measurements on off-axis and on-axis 4H-SiC PiN diodes

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Descripción
Autoría	autor: Jawad ul Hassan  Erik Janzén  Anne Henry
Fecha de publicación	26 de noviembre de 2012
Idioma	inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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