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Investigation of Intrinsic Carbon-Related Defects in 4H-SiC by Selective-Excitation Photoluminescence Spectroscopy

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Descripción
Autoría

autor: Erik Janzén  Ivan G. Ivanov  Andreas Gällström 

Fecha de publicación mayo 2012
Idioma
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Estatus de derecho de autor Desconocido
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