High quality factor GaAs microcavity with buried bullseye defects
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: Christian Schneider Niels Gregersen Martin Kamp Sven Höfling |
| Fecha de publicación | 17 de mayo de 2018 |
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| País de origen | |
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| Estatus de derecho de autor | Private domain |
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