Refractometric sensors based on multimode interference in a thin-film coated single-mode–multimode–single-mode structure with reflection configuration
| Imagen |  |
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: Jesus Maria Corres Francisco J. Arregui Ignacio del Villar Ignacio R. Matias Abian Bentor Socorro |
| Fecha de publicación | 1 de junio de 2014 |
| Idioma | inglés |
| País de origen | |
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