Nitrogen incorporation into strained (In, Ga) (As, N) thin films grown on (100), (511), (411), (311), and (111) GaAs substrates studied by photoreflectance spectroscopy and high-resolution x-ray diffraction

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Autoría	autor: M. Henini  Robert Kudrawiec  Jan Misiewicz
Fecha de publicación	noviembre 2006
Idioma
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