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Gate-tunable, normally-on to normally-off memristance transition in patterned LaAlO3/SrTiO3 interfaces

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Descripción
Autoría

autor: Lukas Worschech  Ralph Claessen  Michael Sing  Sven Höfling 

Fecha de publicación 27 de febrero de 2017
Idioma inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor Private domain
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