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Origin and Enhancement of Hole-Induced Ferromagnetism in First-Rowd0Semiconductors

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Descripción artículo científico publicado en 2009
Autoría

autor: Hongjun Xiang  Haowei Peng 

Fecha de publicación 5 de enero de 2009
Idioma inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor Desconocido
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