Overcoming Low Ge Ionization and Erosion Rate Variation for Quantitative Ultralow Energy Secondary Ion Mass Spectrometry Depth Profiles of Si1–xGex/Ge Quantum Well Structures

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Descripción	artículo científico publicado en 2012
Autoría	autor: Richard Beanland  David Leadley
Fecha de publicación	24 de febrero de 2012
Idioma	inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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