The role of defects in fluorescent silicon carbide layers grown by sublimation epitaxy
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: Valdas Jokubavicius Haiyan Ou Jianwu Sun Saskia Schimmel Yiyu Ou |
| Fecha de publicación | 31 de marzo de 2014 |
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| Estatus de derecho de autor | Desconocido |
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