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Automated methods for 3D Segmentation of Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscopic Images

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Descripción
Autoría

autor: Alexander V Maltsev  Brian Caffrey  Luigi Ferrucci  Sriram Subramaniam 

Fecha de publicación 1 de enero de 2019
Idioma
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Estatus de derecho de autor Desconocido
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