Defects of SiC nanowires studied by STM and STS
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: Tomasz Dudziak Andrzej Huczko Michał Puchalski Stanisław Cudziło Adam Busiakiewicz Michal Cichomski |
| Fecha de publicación | mayo 2010 |
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| País de origen | |
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