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X-ray interference effects on the determination of structural data in ultrathin La2/3Sr1/3MnO3 epitaxial thin films

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Descripción
Autoría

autor: Xavier Marti  Gervasi Herranz  Josep Fontcuberta  David Pesquera 

Fecha de publicación 28 de noviembre de 2011
Idioma inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor Desconocido
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