Determination of homogeneous and inhomogeneous broadening in semiconductor nanostructures by two-dimensional Fourier-transform optical spectroscopy

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Descripción
Autoría	autor: Torsten Meier  Steven Cundiff
Fecha de publicación	2 de octubre de 2007
Idioma	inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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