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Extended knife-edge method for characterizing sub-10-nm X-ray beams

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Descripción
Autoría

autor: Makina Yabashi  Hidekazu Mimura  Hirokatsu Yumoto  Kazuto Yamauchi  S Matsuyama  Soichiro Handa  Yasuhisa Sano  Kenji Tamasaku  Yoshinori Nishino  Tetsuya Ishikawa 

Fecha de publicación mayo 2010
Idioma
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