Atomic force microscopy characterization of the chemical contrast of nanoscale patterns fabricated by electron beam lithography on polyethylene glycol oxide thin films - Dominio Público Uruguay

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Atomic force microscopy characterization of the chemical contrast of nanoscale patterns fabricated by electron beam lithography on polyethylene glycol oxide thin films

Autoría

Detalles de la obra

Fecha de publicación: 14 de noviembre de 2008

Idioma: Desconocido

País de origen: Desconocido

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