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Synchrotron X-ray investigation of the layer spacing in a series of low molar mass bi-mesogen organosiloxane smectic materials

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Descripción
Autoría

autor: S Bernstorff  Michael Rappolt 

Fecha de publicación 4 de abril de 2014
Idioma
País de origen
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http://eprints.whiterose.ac.uk/87002

Estatus de derecho de autor Desconocido
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