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Measurement of vanadium impurity in oxygen-implanted silicon by isotope dilution and resonance ionization mass spectrometry

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Descripción artículo científico publicado en 1990
Autoría

autor: Richard J. Walker 

Fecha de publicación febrero 1990
Idioma inglés
País de origen
Enlace a Wikipedia
Estatus de derecho de autor Desconocido
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