Atomic force microscopy and X-ray photoelectron spectroscopy characterization of low-energy ion sputtered mica
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: Andrea Chincarini Ugo Valbusa Corrado Boragno Francesco Buatier de Mongeot Renato Buzio Andrea Toma |
| Fecha de publicación | julio 2007 |
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| País de origen | |
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