Filtros de búsqueda

Observation of misfit dislocations in epitaxial CoSi2/Si (111) layers by scanning tunneling microscopy

Imagen Imagen de una obra genérica. El texto sobre ella indica que no hay disponible una imagen libre de la obra, y que si posees una, puedes hacer clic en el enlace del cartel para subirla.
Descripción
Autoría
Fecha de publicación 14 de octubre de 1991
Idioma inglés
País de origen
Enlace a Wikipedia
Estatus de derecho de autor Public domain
¿Datos faltantes/errados? Editar ítem de Wikidata